電子元器件恒溫恒濕箱是一種能模擬各種溫濕度環(huán)境的試驗(yàn)設(shè)備，主要用于檢測(cè)電子元器件在不同氣候條件下的性能和可靠性。可用于環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試，如高溫高濕測(cè)試、低溫低濕測(cè)試、溫濕度循環(huán)測(cè)試等，驗(yàn)證元器件在不同場(chǎng)景下的性能；也可用于可靠性與壽命評(píng)估，如高溫老化測(cè)試、高濕老化測(cè)試等，預(yù)測(cè)元器件的耐用程度；還可用于工藝優(yōu)化與故障分析，暴露生產(chǎn)工藝中的缺陷，定位故障根源。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB/T 11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2. GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3. GB/T 10592-2023 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4. GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

5. GB/T 2423.1-2008 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

6. GB/T 2423.2-2008 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

7. GB/T 2423.3-2016 濕熱試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

8. GB/T 2423.4-2008 交變濕熱試驗(yàn)方法

9. IEC 60068-2-1:2007：寒冷試驗(yàn)

10. IEC 60068-2-2:2007：干熱試驗(yàn)

11. GJB150.3-2009 高溫試驗(yàn)

12. GJB150.4-2009 低溫試驗(yàn)

13. GJB150.9-2009 濕熱試驗(yàn)

電子元器件恒溫恒濕箱典型應(yīng)用場(chǎng)景

• 電子元器件：電阻、電容、二極管、三極管、IC 芯片等，驗(yàn)證其在不同環(huán)境下的電氣性能穩(wěn)定性。

• 電子組件：電路板、傳感器、連接器、電池包等，檢測(cè)組件的裝配可靠性和耐環(huán)境能力。

• 終端產(chǎn)品：手機(jī)、電腦、工業(yè)控制器、汽車電子等，模擬戶外、高溫高濕地區(qū)、寒冷地區(qū)等使用場(chǎng)景。

• 研發(fā)與質(zhì)檢：新品研發(fā)階段的環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試，量產(chǎn)前的質(zhì)量抽檢，以及故障分析時(shí)的環(huán)境模擬復(fù)現(xiàn)。

選型關(guān)鍵要點(diǎn)

• 容積選擇：根據(jù)測(cè)試樣品大小和數(shù)量，常見容積有 100L、225L、408L、800L、1000L 等。

• 溫濕度范圍：需匹配產(chǎn)品實(shí)際使用場(chǎng)景（如戶外產(chǎn)品需覆蓋 - 40℃以下低溫，濕熱地區(qū)產(chǎn)品需支持 95% 以上高濕）。

• 控制精度：高精度需求（如芯片測(cè)試）需選擇波動(dòng)≤±0.3℃、均勻度≤±1℃的型號(hào)。

• 附加功能：是否需要數(shù)據(jù)記錄、程序編輯、遠(yuǎn)程控制、防爆設(shè)計(jì)（針對(duì)易燃易爆樣品）等。